针对IC半导更具有竞争力的"温度变化试验箱"
温度变化试验箱（）具有较宽的温度控制范围，可满足用户的各种实验温度需要，采用平衡调温方式，稳定、平衡的加热及降温能力，可控精度高、稳定性好。
温度变化试验箱又称加速LED老化寿命试验箱时间均智能可调。相关测试参数可根据用户需要自由设定，从而实现LED额定要作条件下的常规老化试验和过载冲击条件下的加速老化试验。系统具有可靠性好、调节方便、寿命长等优点，是LED老化试验的先。
【老化试验风扇设备】
产品的质量控制是一个公司能否长久发展的重要因素，为了达到满意的合格率，产品在出厂前都需先经过老化。在产线上如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率？并对进行过老化测试的产品的测试信息形成可追索文档。本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，在老化测试的同时进行功能测试，并监测产品的测试条件和产品的输入输出参数。
老化就是通过让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。半导体随时可能因为各种原因而出现故障，如果不经过老化，很多半导体成品由于器件和制造工艺复杂性等原因在使用中会产生很多问题。在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷称为早期故障，老化之后的器件基本上要求通过这段时间。准确确定老化时间的方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据。
本系统用于大批量小型风扇煲机测试，采集煲机过程中的风扇运行的电流、电压、转速及电流的波形，形成测试过程数据，用于监控分析产品质量。
【led及半导体灯具测试】
led及半导体灯具系统是根据客户的新要求结合现场实际，由我公司自主研发设计的一种新型多功能的led及半导体灯具。适用于各种型号的路灯、应急灯、球泡灯、射灯及洗墙灯等的老化和寿命测试；步入式温度变化试验舱操作简单方便，性能稳定可靠，扩展自由，为您分析产品性能、查找产品缺陷、提升产品质量提供强有力的数据支撑。
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